熱門搜索：
P760/01_2760nm單模垂直腔面發射激光器
VCSEL-20-M激光控制驅動器
ZNSP25.4-1IR拋光硫化鋅(ZnS)多光譜(透明)窗片 0.37-13.5um 25.4X1.0mm（晶體/棱鏡
Frequad-W-CW DUV 單頻連續激光器 213nm 10mW Frequad-W
HB-C0BFAS0832x4 QPSK C波段相干混頻器（信號解調/鎖相放大器等）
ER40-6/125截止波長1300nm 高摻雜EDF摻鉺光纖
CO2激光光譜分析儀
SNA-4-FC-UPC日本精工法蘭FC/UPC（連接器/光纖束/光纜）
THL-ZnTe20-500RZNTE（碲化鋅）太赫茲晶體
GD5210Y-2-2-TO46905nm 硅雪崩光電二極管 400-1100nm
1030nm超短脈沖種子激光器PS-PSL-1030
IRV2000-1X350-2000nm 1倍紅外觀察鏡
高能激光光譜光束組合的光柵 （色散勻化片）
NANOFIBER-400-9-SA干涉型單模微納光纖傳感器 1270-2000nm
FLEX-BF裸光纖研磨機
S+C+L波段 160nm可調諧帶通濾波器
當前位置：首頁
產品中心光纖/光纖器件/光纖處理光纖研磨拋光/切割剝離器IF-12-01001ProView™ XD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于連接器 光纖包層直徑220-1200u
ProView™ XD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于連接器 光纖包層直徑220-1200u
產品簡介
product
產品分類| 品牌 | 筱曉光子 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 組件類別 | 其他 | 應用領域 | 電子/電池,電氣,綜合 |
ProView™ XD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于連接器 光纖包層直徑220-1200um)（光纖研磨拋光/切割剝離器）
ProView XD是一款高度先進的干涉儀，用于精確測量和檢查直徑為220至1200µm的光纖端面。干涉儀是專門為生產線設計的，在生產線中需要簡單、快速和非常準確的端面檢測。但ProView XD也非常適合研發環境和連接器維護目的。在許多情況下，干涉條紋圖案可以非常復雜地進行分析和理解。為了便于使用和優化檢查速度，ProView XD包括高度先進的全自動功能，用于端面表面的2D和3D地形分析。軟件會自動指示端面的半徑和角度。為了進一步簡化檢查過程，ProView XD可以設置為“通過/未通過"模式。此功能允許操作員通過圖像上的顏色代碼簡單地確定端面質量。除了角度和半徑檢查外，ProView XD還可用于測量其他一些特性，如光纖直徑和定義點之間的距離等。ProView XD-用于連接器，提供預裝支架SMA、FC/PC、ST/PC或LD80連接器支架。還有一個可選的通用v形槽夾具組件可用于檢查裸光纖。可根據需要提供定制的支架或夾具。ProView XD設計緊湊，是生產臺的理想選擇，可與切割機、拋光臺、超聲波清潔器和其他準備工具并排使用。ProView XD通過USB 3.0電纜連接并供電，由外部PC（不包括在內）托管。
ProView™ XD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于連接器 光纖包層直徑220-1200um)（光纖研磨拋光/切割剝離器）
上一個：
返回列表
